质量校准是TOF-SIMS数据处理中的关键步骤，校准准确性直接影响谱峰识别的可靠性。本期技术文章将介绍如何正确进行TOF-SIMS数据的质量校准。

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种具有极高表面灵敏度和检测灵敏度的分析技术，已成为能源材料表界面研究不可或缺的工具。接下来，让我们通过浙江大学陆俊研究团队在锂硫电池和锂金属电池的研究工作，进一步了解TOF-SIMS 在电池表界面研究中的重要作用。

冷冻X射线光电子能谱（cryo-XPS）与氩气团簇离子束（GCIB）溅射联用技术，首次实现对锂金属电池中含有机电解液的固-液界面进行无化学损伤的深度成分解析，揭示真实SEI结构与演化过程。

低能量反光电子能谱（LEIPS）通过测量不同工艺条件下有机薄膜的LUMO能级变化，揭示了添加剂和热退火处理对表面能级的调控作用。

在二次离子质谱设备的硬件结构中，用于轰击样品表面以产生二次离子的分析源是极为重要的核心组件。目前，大部分商用TOF-SIMS设备均采用液态金属离子源（Liquid Metal Ion Source, 简称LMIS）。本文将详细介绍LMIS的工作原理、发展历史及其在TOF-SIMS中的应用。

导语：利用X射线光电子能谱（XPS）和硬X射线光电子能谱（HAXPES）技术，深入研究了LiₓNiO₂电极材料在表面至30纳米深度范围内，镍（Ni）和氧（O）在充放电过程中的电荷补偿行为。