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硬X射线光电子能谱(HAXPES)是一种先进的表面分析技术,主要用于研究固体样品的表面电子结构和化学态。HAXPES利用高能X射线(例如CrKα射线,能量为5414.7eV)激发样品表面的电子。通过测量这些电子的能量分布,能够获得关于样品表面的化学成分和电子结构的详细信息。与传统的XPS(软X射线光电子能谱)相比,HAXPES具有更深的探测深度,通常可达约30nm,适用于多层薄膜、半导体光电器件等样品的无损深度分析。
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X射线光电子能谱仪(XPS)
硬X射线光电子能谱仪(HAXPES)
飞行时间二次离子质谱仪(TOF- SIMS)
俄歇电子能谱仪(AES)
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